YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法_有色金属行业标准_库七七

您现在的位置：首页 > 标准库 > 行业标准 > 有色金属>YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法

YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法

YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法

资料大小： 356.45 KB

文档格式： PDF文档

资料语言： 简体中文

资料类别： 有色金属

发布日期：

实施日期：

标准状态：

本地下载(0点) 备用下载(0点)

简介

YS∕T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法

本文件为PDF文档. YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法文件大小 356.45 KB

本资料所属专题

有色金属 YS

相关推荐

YS 40-1992 高纯碘化铯 11-23
YS 5418-1995 尾矿设施施工及验收规程 11-24
YS/T 397-1994 海绵锆 11-23
YS/T 118.9-1992 重有色冶金炉窑热平衡测定与计算方法(铜精炼反射炉) 11-23
YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法 11-23

YS 40-1992 高纯碘化铯 11-23
YS 5418-1995 尾矿设施施工及验收规程 11-24
YS/T 397-1994 海绵锆 11-23
YS/T 118.9-1992 重有色冶金炉窑热平衡测定与计算方法(铜精炼反射炉) 11-23
YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法 11-23

最近更新

YS/T 429.1-2023 铝幕墙板第1部分：基材

YS/T 420-2023 铝合金韦氏硬度试验方法

YS/T 1592-2023 粗氯化锂

YS/T 1602-2023 钼富集物

YS/T 245-2023 粉冶钼合金顶头

YS/T 598-2023 超细二氧化钌粉

YS/T 1595-2023 电子封装用钼铜层状复合材料

YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法

YS/T 1605.3-2023 焙烧钼精矿化学分析方法第3部分：铋含量的测定火焰原子吸收光谱法和原子荧光光谱法

YS/T 1603.2-2023 钨基高比重合金化学分析方法第2部分：铁、镍、铜含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法