T/COS 029-2025 电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法

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文件大小： 5.42 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 团体标准
关键词： 辉光   化学分析   封装   放电   铝合金
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标准简介

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适用范围：本文件明确了电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法的检验方法与质量评定要求，适用于有色金属的行业监督。

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