T/CSTM 01199-2024 多层金属薄膜层结构测量分析方法 X射线光电子能谱

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语言版本: 简体中文
标准类别: 团体标准
关键词: 薄膜   射线   多层   测量   金属

标准简介

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适用范围:本标准涵盖了多层金属薄膜层结构测量分析方法 X射线光电子能谱的主要技术内容,是检测技术领域的重要参考文件。

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