T/CESA 1120-2020 人工智能芯片面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

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语言版本：简体中文

标准类别：团体标准

关键词：人工智能芯片边缘测试深度

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标准简介

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适用范围：本文件提供了人工智能芯片面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法的快速检测方法与便携仪器应用规范，提升检测技术检测效率。

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