SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

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文件大小： 1.63 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 电子
关键词： 存储器   随机   测试   基本原理   方法
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标准简介

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适用范围：本文件明确了半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理的方法验证与不确定度评定要求，适用于检测技术的质量控制。

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