SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

文件格式： PDF文档
文件大小： 35.29 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 电子
关键词： 测试   现场   可编程   门阵列   方法
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标准简介

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适用范围：本文件规定了半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法的检测方法标准与试验规范，适用于检测技术的实验室分析与现场检测。

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