SJ 20844-2002 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法

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文件大小： 523.32 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 电子
关键词： 绝缘   均匀   测试   方法   SJ
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标准简介

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适用范围：本文件规定了半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法的检测方法标准与试验规范，适用于检测技术的实验室分析与现场检测。

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