SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法_电子行业标准_库七七

您现在的位置：首页 > 标准库 > 行业标准 > 电子>SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法

SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法

SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法

资料大小： 95.08 KB

文档格式： PDF文档

资料语言： 简体中文

资料类别： 电子

发布日期：

实施日期：

标准状态：

本地下载(0点) 备用下载(0点)

简介

SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法

本文件为PDF文档. SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法文件大小 95.08 KB

本资料所属专题

电子 SJ

相关推荐

最近更新

SJ/T 2674-2023 电子设备用固定电阻器详细规范 RJ16型金属膜低功率固定电阻器评定水平E

SJ/T 11833.1-2023 移动显示器件用玻璃盖板第1部分：机械试验方法——指南

SJ/T 11841.5.1-2023 显示系统视觉舒适度第5-1部分：大尺寸显示屏最大亮度要求

SJ/T 11915-2023 工业互联网平台术语

SJ/T 11922-2023 绿色设计产品评价技术规范金属化薄膜电容器

SJ/T 11461.5.3-2023 有机发光二极管显示器件第5-3部分：残像和寿命的测试方法

SJ/T 11897-2023 智能电视终端安全能力测试要求

SJ/T 11921-2023 基础机电继电器生产生命周期评价技术规范（产品种类规则）

SJ/T 11460.6.4-2023 显示光源组件第6-4部分：测试方法 LED发光板光电参数

SJ/T 11900.1-2023 超高清视频图像质量第1部分：主观评价