SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法

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语言版本：简体中文

标准类别：电子

关键词：脉冲半导体测试上升下降

标准简介

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适用范围：本文件提供了SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法的快速检测方法与便携仪器应用规范，提升检测技术检测效率。