QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法

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文件大小： 572.58 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 航天
关键词： 照相   多余   射线   检验   电子元器件
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标准简介

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适用范围：本文件规定了电子元器件中多余物的X射线照相检验方法的检测方法标准与试验规范，适用于检测技术的实验室分析与现场检测。

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