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JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

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文档格式： PDF文档

资料语言： 简体中文

资料类别： 机械

发布日期： 2015-04-30

实施日期： 2015-10-01

标准状态： 现行有效

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简介

JB∕T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。
本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。

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