SAE J1752-2-2003 (R) Measurement of Radiated Emissions from Integrated CircuitsSurface Scan Method (

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标准类别： 国外标准
关键词： SAE   J1752   2003   Measurement   of
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标准简介

SAE J1752-2-2003 (R) Measurement of Radiated Emissions from Integrated CircuitsSurface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz
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