EIAJED-4701-300-1 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I)

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文件大小: 1.94 MB
语言版本: 日文版
标准类别: 国外标准
关键词: EIAJED   4701   300   Environmental   and

标准简介

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适用范围:本文件提供了EIAJED-4701-300-1 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I)的技术指南与操作规范,适用于国外标准的技术改造与设备管理。

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