ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

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标准类别：国外标准

关键词：半导体系数测量试验霍尔

标准简介

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适用范围：本文件提供了ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法的快速检测方法与便携仪器应用规范，提升检测技术检测效率。