ASTM F1260M-96(2003) 集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)

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标准类别: 国外标准
关键词: 失效   集成电路   迁移   评定   金属

标准简介

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适用范围:本文件提供了ASTM F1260M-96(2003) 集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)的快速检测方法与便携仪器应用规范,提升检测技术检测效率。

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