ASTM F1192-00(2006) 半导体器件的重离子照射引起的单事件现象测量的标准指南(米制)

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语言版本： 英文版
标准类别： 国外标准
关键词： 照射   指南   离子   测量   米制
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标准简介

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适用范围：本文件规定了ASTM F1192-00(2006) 半导体器件的重离子照射引起的单事件现象测量的标准指南(米制)的技术标准与服务规范，适用于服务管理的行业管理与质量评价。

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