GB∕T 26332.4-2015 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。
本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法,这些方法在GB/T 12085-2010标准中没有描述。
这些方法通常与GB/T 26332.3-2015附录A中的测试方法组成试验序列共同使用。
本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。

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