GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

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文件大小： 455 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 晶片   长度   参考   电子   材料
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标准简介

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适用范围：本标准对硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法的抽样方法与判定规则作出了规定，适用于产品制造的质量监督抽查。

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