GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

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文件大小： 179.59 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 测试   数字   基本原理   方法   GB
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标准简介

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适用范围：本文件规定了半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理的检测方法标准与试验规范，适用于检测技术的实验室分析与现场检测。

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