【清晰版】 GB/Z 43510-2023 集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

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文件大小: 603.27 KB
语言版本: 简体中文
标准类别: 国家标准
关键词: 封装   三维   集成电路   指南   试验

标准简介

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适用范围:本文件明确了【清晰版】 GB/Z 43510-2023 集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南的方法验证与不确定度评定要求,适用于检测技术的质量控制。

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