GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

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语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 集成电路   电路   混合   内部   不包括
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标准简介

GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) 进行内部目检的目的是检验集成电路的内部材料、结构和工艺,验证与适用的规范要求的一致性。通常应在封帽或密封之前对器件进行100%内部目检,以发现可能导致器件在正常使用时失效的内部缺陷并剔除相应器件。本试验也可按抽样方式在封帽之前使用,以确定承制方对半导体器件质量控制和操作程序的有效性。
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