GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

文件格式： PDF文档
文件大小： 2.76 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 衍射   半导体   射线   晶体   测试
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标准简介

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适用范围：本标准对半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法的仲裁检验与能力验证作出了规定，为检测技术的质量保证提供依据。

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