GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

文件格式： PDF文档
文件大小： 4.14 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 暗场   元件   散射   成像   定量
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标准简介

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适用范围：本标准涵盖了光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法的主要技术内容，是检测技术领域的重要参考文件。

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