GB 3834-1983 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

文件格式： PDF文档
文件大小： 1.83 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 电路   测试   基本原理   方法   GB
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标准简介

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适用范围：本标准针对半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理提出了仪器设备与操作步骤的技术要求，确保检测技术检测结果准确可靠。

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