GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

文件格式： PDF文档

文件大小： 128.17 KB

语言版本：简体中文

标准类别：国家标准

关键词：损耗介质测试性能正切

标准简介

GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。