GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

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语言版本: 简体中文
标准类别: 国家标准
关键词: 系数   测试   性能   平均   线膨胀

标准简介

GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
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