GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法_国家标准

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资料语言： 简体中文

发布日期： 1985-11-27

实施日期： 1986-12-01

标准状态： 现行有效

简介

GB∕T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法
本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。

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