GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
标准简介
说明:本站提供 GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 的PDF全文下载。
适用范围:本标准对半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法的仲裁检验与能力验证作出了规定,为检测技术的质量保证提供依据。
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适用范围:本标准对半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法的仲裁检验与能力验证作出了规定,为检测技术的质量保证提供依据。